LabSensNano


	Výsledky Prototypy Funkční vzorky Software Užitné vzory Patenty

Kontrolér pro měření 100 pixelového MEMS bolometru

Publikováno : 2017
Autoři: doc. Ing. Jan Pekárek, Ph.D. , prof. Ing. Pavel Neužil, Dr., DSc. , Ing. Vojtěch Svatoš , Ing. Imrich Gablech, Ph.D. , doc. Ing. Jaromír Hubálek, Ph.D.

Klíčová slova: DPS, kontrolér, bolometr, vyčítací obvod

Popis:

Testovací deska plošných spojů (viz obr. 1) byla navržena a vyrobena pro ověření základních vlastností automaticky kalibrovaného integrovaného obvodu pro měření velmi malých signálů ze 100 pixelového MEMS bolometru s nestandardním užitím sigma-delta modulátoru. Pomocí DPS je možné generovat signály pro řízení a nastavení integrovaného obvodu, tzn. generuje signály SWCTRL, CRES, CLK, SMPLH, VSETI a další). Časování je možné nastavit pomocí ovládacího software (viz obr. 2), který je součástí zařízení. Na obr. 3 jsou zobrazena schémata zapojení a na obr. 4 je layout DPS.

Obr. 1: Fotografie funkčního vzorku

Obr. 2: Ovládací software pro nastavení časování

Obr. 3: Schéma zapojení

Obr. 4: Layout DPS

Parametry:

Funkční vzorek byl na základě získaných poznatků zkonstruován a ověřen. Je využíván na pracovišti řešitele LabSensNano (VUT v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, Ústav mikroelektroniky, Technická 3058/10, 616 00 Brno, Česká republika).

náklady na výrobu cca 50 tisíc.

Projekty:

VI20152019043 , LO1401 (INWITE)

Kontrolér pro měření 100 pixelového MEMS bolometru

Popis:

Parametry:

Projekty:

Zpět...