|
| | |
|
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan FE MIRA II LMU s detektory EDX a WDX
Tescan
Popis - elektronový mikroskop s rozlišením 1,2 nm
- detektor sekundárních elektronů Everhart-Thorley
- detektor InBeam instalovaný v tubusu pro analýzu s vysokým rozlišením
- detektor zpětně odražených elektronů (BSE)
- detektor sekundárních elektronů pro detekci v nízkém vakuu (LVSTD)
- softwarem DrawBeam pro elektronovou litografii v blízkém poli
- systém pro prvkovou analýzu EDX a WDX of firmy Oxford Instruments
Využití - pozorování pevných nanomateriálů − kovy, anorganické materiály, polymer couponrxsms.com/cialis-coupon discount y… (nejmenší detaily až 1,3 nm)
- pozorování nevodivých materiálů pod nízkým napětím bez nutnosti naprašování vodivé vrstvy
- pozorování biologických preparátů v nízkém vakuu
- tvorba nanostrukturovaných masek pro metody lift-off a mokré leptání
- prvkové analýzy
- kontrola homogenity a kontaminace různých prvků
- kontrola kvality tenkých vrstev
Zpět...
|
|
|
| | |
|
|